我想我可以说一说X射线衍射和质谱法,X射线衍射,你可以想一想衍射原理,首先被测量结构一定与X光波长在同一数量级,能发生衍射,一般用它来测晶体结构,你可以认为每一个结构都有一种特定的衍射图案这样就可以测定结构了,如果你上过高二你一定在物理学习中做过两夹层玻璃通过干涉来测定表面凹凸程度,我认为两个原理应当相同.至于质谱法很简单就是首先用一种方法(我不知道的)把要测定的分子变成离子,将其置于磁场中可以根据洛伦兹力等于向心力计算出荷质比,然后间接得出相对分子质量.红外光谱就算了
请较详细的介绍能谱,X射线衍射,质谱,红外(有追加分)
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